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轴径测量解决方案

2019-02-12

　　轴类广泛应用于各种机械。某些轴的直径需要精密测定。我们来看看，都有那些测量解决方案？

　　1、使用量具测量
　　卡规（图1），也称卡板，使用卡规测量普通精度的轴径，是机械制造业轴类成批检验Z常用的方法。卡规的通端和止端根据轴径公差的Z大、Z小极限尺寸制造。用卡规测量轴径，效率高，操作方便。

　　使用带表千分尺或带表卡规（图2）测量轴径也是常用的方法，其读数分度值可达1μm，常用于轴类精加工过程中的检验。

　　2、用仪器测量
　　用立式光学计可以测量轴径。但是对于较长的轴，测量时需要用手托起轴的一端，带来操作不便。建议使用立式测长仪（图3）测量轴径。

　　图4所示为立式测长仪正在测量一根长轴的轴颈部分，巧妙地应用了固定在底座左侧的辅助支架上的V形支承将轴的左端托起。右端支承在下置刃形测帽上。辅助支架具有升降粗、微调功能，可以很方便地找到读数的拐点。利用辅助支架测量长丝杠和带柄螺纹塞规中径，也会带来不少方便。

　　3、激光测径仪
　　激光测径仪（图5）是以激光束扫描被测件，光电探测器接收扫描光束的方式进行测量，并且带有计算机数据处理系统的新型轴径测量仪器。

　　如6图所示：激光器发出的细束光经反射镜和准直物镜，射在位于准直物镜焦平面上的多面镜的一个反射面上，其反射光线经准直物镜折射，变成平行于光轴的光线，再经另一块接收准直物镜，光线被位于该准直物镜焦点上的光电探测器所接收。两块准直物镜同轴，被测件置于两准直物镜之间。

　　测量时，由于多面镜在电机带动下匀速旋转，因此经各面反射的光线周期性地扫描被测件。当光线被样品阻挡时，光电探测器输出低电平；而未被阻挡时，输出高电平。只要光束足够细，光电探测器将输出周期性的方波信号。依据方波的宽度得到被测样品直径。
　　这种测径仪的Z大优点就是测量效率高，常用于精密棒材和线材直径的在线检测。

　　4、轴类检测仪
　　随着技术的进步，本世纪初，出现了轴类检测仪，其功能扩展到轴的所有轴向尺寸、径向尺寸，角度、圆度、跳动，甚至倒角、空刀槽等所有尺寸都能测量。
　　图7为一种轴类检测仪，它采用接触测量，具有一套轴向测量系统和多套径向测量系统，其测量不确定度：轴向：(3+L/100)μm，径向：(1+D/100)μm

　　图8所示为一种光学式轴类检测仪，采用非接触测量，CCD接收。被测轴轴线可以相对投影光线倾斜±15°，能测量轴上的螺纹。

（来源：新天光电）